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Mini LED 芯片膜厚測試系統(tǒng)
介紹: 測量目標(biāo)膜的絕對反射率,實(shí)現(xiàn)高精度膜厚和光學(xué)常數(shù)測試! (分光干渉法)品牌: 日本 大塚電子型號: optm -

量子效率測定系統(tǒng)QE-2000
介紹: 量子效率測量系統(tǒng)“QE-2000”是一種測量量子效率(量子產(chǎn)額)的裝置。將試料放置在固定治具上之后, 按照專業(yè)軟件的指示操作,可以在短時間內(nèi)完成試料的測量及解析。品牌: 日本 大塚電子型號: QE-2000
































































































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