快速掃描測(cè)量系統(tǒng)
簡(jiǎn) 述：
快速掃描測(cè)量系統(tǒng)整合了TSL 可調(diào)諧激光器、MPM 光功率計(jì)、PCU 偏振控制器及根據(jù)用戶需求自定義的軟件，為R&D 及生產(chǎn)環(huán)境的IL、WDL、PDL 測(cè)試提供快速、多功能、全自動(dòng)的平臺(tái)。系統(tǒng)同時(shí)采集可調(diào)諧光源的輸出功率及DUT 透過(guò)的光功率作實(shí)時(shí)參比，獲取高精度的IL、WDL 以及PDL（采用Muller 矩陣方法）。
品 牌：
日本 Santec
產(chǎn)品型號(hào)：
- 快速掃描測(cè)量系統(tǒng)
快速掃描測(cè)量系統(tǒng)整合了TSL 可調(diào)諧激光器、MPM 光功率計(jì)、PCU 偏振控制器及根據(jù)用戶需求自定義的軟件，為R&D 及生產(chǎn)環(huán)境的IL、WDL、PDL 測(cè)試提供快速、多功能、全自動(dòng)的平臺(tái)。系統(tǒng)同時(shí)采集可調(diào)諧光源的輸出功率及DUT 透過(guò)的光功率作實(shí)時(shí)參比，獲取高精度的IL、WDL 以及PDL（采用Muller 矩陣方法）。
性能優(yōu)勢(shì)
• 實(shí)時(shí)功率參考：高精度的WDL/PDL 測(cè)試
- 功率可重復(fù)性<±0.02dB
- PDL 可重復(fù)性＜ ±0.01dB
• 縮放運(yùn)算：高波長(zhǎng)精度/ 節(jié)省測(cè)量時(shí)間
• 支持多通道測(cè)量
• 支持圖形介面軟件及編程接口（DLL）
主要應(yīng)用
• 器件和模塊光學(xué)特性測(cè)試：
- 可調(diào)諧濾波器，插入器，F(xiàn)BG，
耦合器，分光器，隔離器，開(kāi)關(guān) .....
- WSS 及波長(zhǎng)阻斷器
- DWDM 器件
• 硅光子材料表征，包括微腔環(huán)形諧振器
• 光譜
• 干涉測(cè)量
配置
多站測(cè)試
測(cè)試示例
多站測(cè)試
多站測(cè)試中，TSL、PCU與MCU 構(gòu)成一個(gè)服務(wù)中心，分發(fā)觸發(fā)信號(hào)及光束到不同的測(cè)試站。每個(gè)測(cè)試站包括功率計(jì)和客戶端PC。在運(yùn)行過(guò)程中，TS持續(xù)的掃頻，使得每個(gè)測(cè)試站可以獨(dú)立而并行地工作。多站測(cè)試架構(gòu)極大提升了高精度測(cè)量與分析的效率。
測(cè)試示例
13810233784
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