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激光粒徑儀
介紹： ELSZ-2000激光粒徑儀提供快速、準(zhǔn)確、便捷的粒徑大小測(cè)試，界連電位測(cè)試以及分子量的測(cè)試。 該分析儀可在0.6納米至10微米粒度范圍內(nèi)進(jìn)行粒徑測(cè)量，-200到200mV間進(jìn)行界達(dá)電位測(cè)量。品牌： 日本 大塚電子型號(hào)： ELSZ-2000
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工業(yè)與信息化
顯示與照明自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) ACR環(huán)境對(duì)比度測(cè)試 Trulume顯示屏測(cè)試 攝像頭平場(chǎng)校準(zhǔn)系統(tǒng) 傳感器量子效率測(cè)試系統(tǒng) 準(zhǔn)直均勻光源 分布光度計(jì) VR/AR 測(cè)試系統(tǒng) IVL&EQE光學(xué)測(cè)試系統(tǒng) LCD顯示屏光學(xué)測(cè)試系統(tǒng) 光源照度測(cè)試 顯示屏測(cè)試 玻璃/表面檢測(cè) 制程監(jiān)控 LED顯示屏測(cè)試 薄膜測(cè)試 光源及燈具測(cè)試 表面形貌檢測(cè) 激光防護(hù) 激光剝離 面板修補(bǔ)消費(fèi)電子健康監(jiān)測(cè) 新風(fēng)系統(tǒng)二氧化碳檢測(cè) 手機(jī)屏幕光學(xué)性能評(píng)價(jià) 電視屏幕自動(dòng)光學(xué)測(cè)試 自動(dòng)化設(shè)備隔振 3C產(chǎn)品生產(chǎn)和檢測(cè)的自動(dòng)化裝置 攝像頭平場(chǎng)校準(zhǔn) 傳感器量子效率測(cè)試 手機(jī)鏡頭/傳感器測(cè)試 VCSEL測(cè)試 數(shù)字影院光學(xué)測(cè)試 VR/AR 測(cè)試 攝像頭測(cè)試 激光安全認(rèn)證 無(wú)損檢測(cè) AOI 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) 玻璃/表面檢測(cè) 膜厚測(cè)試 貼膜測(cè)試 光學(xué)測(cè)試設(shè)備 激光加工 攝像機(jī)鏡頭測(cè)量 AR/VR 設(shè)備測(cè)量 紫外切割 超快微加工 顯示屏測(cè)試 -
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