A-TAKT™ ：FPD產(chǎn)線用光譜式亮度計(jì)
簡(jiǎn) 述：
光譜式測(cè)量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術(shù)提供了高精度的亮度、色度測(cè)量。現(xiàn)有的光譜式測(cè)量的主要不足是需要很長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間。Photo Research的A-TAKT?系列光譜式輻射度計(jì)彌補(bǔ)了這一不足，實(shí)現(xiàn)了光譜式精度的實(shí)時(shí)產(chǎn)線測(cè)試。
品 牌：
美國(guó) Photo Research
產(chǎn)品型號(hào)：
- A-TAKT™
眾所周知，光譜式測(cè)量為CCFL、LED 背光LCD 及OLED 等平板顯示技術(shù)提供了最高精度的亮度、色度測(cè)量。現(xiàn)有的光譜式測(cè)量的主要不足是需要很長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間。Photo Research 的A-TAKT™ 系列光譜式輻射度計(jì)彌補(bǔ)了這一不足，實(shí)現(xiàn)了光譜式精度的實(shí)時(shí)產(chǎn)線測(cè)試。
A-TAKT™ 系列包含三款——V-7HS、V-7WD 和V-6AQL。V-7HS是三者中靈敏度最高、測(cè)試速度最快的機(jī)型，能夠在僅250ms的測(cè)試時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)0.5cd/m2 的微弱亮度測(cè)試（如測(cè)試LED 背光LCD）；V-7WD 則提供了高速測(cè)量的解決方案，針對(duì)LCD 背光模組等具備更高光強(qiáng)的測(cè)試；而V-6AQL 則提供了更低成本的解決方案，針對(duì)關(guān)鍵環(huán)節(jié)的測(cè)量，如AQL、IQC 及OQC 等。
所有三款機(jī)型都是基于CCD 進(jìn)行探測(cè)而不需通過目鏡觀測(cè)，同時(shí)可調(diào)取、使用測(cè)試對(duì)象的圖像。RS232 和USB 接口以及加固的附件可增加儀器在惡劣環(huán)境中的使用安全。自帶的1/4-20 SAE 螺紋孔使得儀器非常便于安裝和固定。
物鏡可從定焦50mm 到變焦75mm 的鏡頭中進(jìn)行選擇；也可根據(jù)用戶實(shí)際產(chǎn)線測(cè)試需求進(jìn)行定制鏡頭。您也可以選擇帶有屏敝罩的特殊的亮度配件用于屏蔽測(cè)試時(shí)的外界環(huán)境雜散光的影響。
A-TAKT™ 系列測(cè)試設(shè)備支持通過文本編程通訊協(xié)議或SDK 進(jìn)行控制，并與Windows Vista 32 或64 bit（或更高版本）及OSX（10.7+）兼容。
靈活的定制
高精度，快速測(cè)量，針對(duì)于低亮測(cè)試應(yīng)用-V-7HS
A-TAKT™ V-7HS
快速，高光譜分辨率，適用于高亮發(fā)光源的測(cè)試-V-7WD
A-TAKT™ V-7WD
經(jīng)濟(jì)、便攜的解決方案，適用于QC/QA 測(cè)試-V-6AQL
A-TAKT™ V-6AQL
由于產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境的不同（如工作距離、測(cè)試區(qū)域和系統(tǒng)控制接口等），A-TAKT™ 可提供不同配置，包括鏡頭的定制（滿足不同工作距離、光斑尺寸的測(cè)試需求），易于開發(fā)的SDK 包以便更快捷、輕松的集成到用戶的ATE 系統(tǒng)。
為確保A-TAKT™ 始終保持測(cè)試的精準(zhǔn)度和重復(fù)測(cè)試精度，我們集成了“EasyProfile”技術(shù)——針對(duì)A-TAKT™ 不同測(cè)試對(duì)象的自分析技術(shù)，所得分析數(shù)據(jù)使設(shè)備在確保科學(xué)級(jí)的準(zhǔn)確性和精確度前提下實(shí)現(xiàn)最快的測(cè)試速度。
為確保A-TAKT™ 始終保持測(cè)試的精準(zhǔn)度和重復(fù)測(cè)試精度，我們集成了“EasyProfile”技術(shù)——針對(duì)A-TAKT™ 不同測(cè)試對(duì)象的自分析技術(shù)，所得分析數(shù)據(jù)使設(shè)備在確保科學(xué)級(jí)的準(zhǔn)確性和精確度前提下實(shí)現(xiàn)最快的測(cè)試速度。
A-TAKT™ 控制軟件
• A-TAKT™ SDK 軟件包使得A-TAKT™ 系列測(cè)試設(shè)備非常方便的實(shí)現(xiàn)與您的不同產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境集成、控制；
• 與Windows Vista, Windows 7, Windows 8-32/64 或MAC OS X10.7+ 兼容；
• "EasyProfile" 最優(yōu)化功能確保得到最快、最精準(zhǔn)的測(cè)試結(jié)果；
• 選取、調(diào)用測(cè)試目標(biāo)圖像；
• 儀器控制——設(shè)置，測(cè)試和數(shù)據(jù)收集；
• 可定制的軟件選項(xiàng)確保A-TAKT™ 系列測(cè)試設(shè)備與您的產(chǎn)線測(cè)試需求實(shí)現(xiàn)最優(yōu)化的整合。
高精度，快速測(cè)量，針對(duì)于低亮測(cè)試應(yīng)用-V-7HS
A-TAKT™ V-7HS
• 在不影響測(cè)試精準(zhǔn)度和重復(fù)測(cè)試精度的前提下，最短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)最大數(shù)量的產(chǎn)品測(cè)試；
• 幾秒鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)完整的灰度等級(jí)、Gamma 和色度測(cè)試（取決于亮度等級(jí)和測(cè)試數(shù)量）；
• 近乎實(shí)時(shí)的高精準(zhǔn)、高重復(fù)性光譜輻射度計(jì)；
• 熱電制冷保持產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境中的測(cè)試穩(wěn)定性；
• 毫秒時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)極低亮度的測(cè)試；
• 可針對(duì)您的不同測(cè)試需求進(jìn)行定制。
快速，高光譜分辨率，適用于高亮發(fā)光源的測(cè)試-V-7WD
A-TAKT™ V-7WD
• 針對(duì)FPD 背光模組等高亮發(fā)光源的極高精準(zhǔn)度和重復(fù)精度的最優(yōu)化測(cè)試；
• 近乎實(shí)時(shí)的高精準(zhǔn)、高重復(fù)性光譜輻射度計(jì)；
• 熱電制冷保持不同產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境中的測(cè)試穩(wěn)定性；
• 快速、高光譜分辨率，針對(duì)高亮背光模組、LED 模組等；
• 可針對(duì)您的不同測(cè)試需求進(jìn)行定制。
A-TAKT™ V-6AQL
• 為您的AQL 應(yīng)用提供非常精準(zhǔn)的光譜式解決方案；
• 簡(jiǎn)潔的工業(yè)檢測(cè)量身定制；
• 光譜式設(shè)計(jì)保證精準(zhǔn)度和重復(fù)精度，滿足或優(yōu)于您的生產(chǎn)需求；
• 可針對(duì)您的不同測(cè)試需求進(jìn)行定制。
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